更新時間:2024-06-22
單片機開發(fā)應(yīng)用技術(shù)綜合實驗裝置由控制屏、實驗掛箱、實驗桌組成,通過本實驗臺可完成單片機的接口擴展、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)顯示、鍵盤控制、定時器、打印機接口等實驗,配備有仿真器。設(shè)有電流型漏電保護器,控制屏若有漏電現(xiàn)象,漏電流超過一定值,即切斷電源,對人身安全起到一定的保護。本裝置采用組件式結(jié)構(gòu),更換實驗模塊便捷。如需擴展功能或開發(fā)新實驗,只需添加實驗模塊掛箱即可。
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1.存儲器塊清零 2.二進制到BCD碼轉(zhuǎn)換 3.二進制到ASCII碼轉(zhuǎn)換 4.程序跳轉(zhuǎn)表 5.內(nèi)存塊移動 6.數(shù)據(jù)排序 7.P1口輸入、輸出實驗 8.繼電器控制實驗 9.用74LS244讀入數(shù)據(jù) 10.用74LS273輸出數(shù)據(jù) 11.串行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換并行數(shù)據(jù) 12.并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換串行數(shù)據(jù) 13.PWM轉(zhuǎn)換電壓實驗 14.音頻控制實驗 15.8255輸入、輸出實驗 16.8155輸入、輸出實驗 17.5LED靜態(tài)串行顯示實驗 18.6LED動態(tài)掃描顯示實驗 19.查詢式鍵盤實驗 20.陣列式鍵盤實驗 21.計數(shù)器實驗 22.定時器實驗 23.8253定時器實驗 24.外部中斷實驗 25.串行口通訊實驗 26.ADC0809模數(shù)轉(zhuǎn)換實驗 27.DAC0832數(shù)模轉(zhuǎn)換實驗 28.MC14433模數(shù)轉(zhuǎn)換實驗 29.EEPROM外部數(shù)據(jù)程序存儲器實驗 30.SRAM外部數(shù)據(jù)存儲器擴展實驗 31.93C46串行EEPROM數(shù)據(jù)讀寫實驗 | 32.電子時鐘實驗 33.電子琴模擬實驗 34.打印機控制實驗 35.汽車轉(zhuǎn)彎信號燈控制實驗 36.溫度傳感器溫度控制實驗 37.溫度過程控制模擬實驗 38.五相步進電機模擬實驗 39.計算器實驗 40.數(shù)字頻率計實驗 41.V/F轉(zhuǎn)換實驗 42.F/V轉(zhuǎn)換實驗 43.LED點陣顯示實驗 44.字符液晶顯示屏控制實驗 45.8279鍵盤掃描顯示實驗 46.看門狗實驗 47.8251串行口擴展通訊實驗 48.I2C總線讀寫實驗 49.RS232轉(zhuǎn)RS485實驗 50.USB接口實驗 51.十字路口交通燈控制實驗 52.五功能邏輯筆實驗 53.直流電機驅(qū)動調(diào)速實驗(實物) 54.步進電機驅(qū)動實驗(實物) 55.IC卡讀寫實驗 56.實時時鐘/日歷控制實驗 57.語音芯片控制實驗 58.單片機與CPLD實驗 59.8051與PC機串行口通訊實驗 60.Flash Rom外部程序存儲器實驗 61.多功能密碼鎖實驗 |
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